Jenseits von „Moore‘s Law“ Fortschritt in der Mikroelektronik durch Mess- und Prüftechnik Die Mikroelektronik steht vor einem tiefgreifenden Wandel: Nicht mehr allein die Transistorverkleinerung entscheidet über Fortschritt, sondern neue Architekturen, 3D-Integration und hochpräzise Mess- und Prüftechnik. Nicole Ahner 21. May 2026